說明:
用于發(fā)射光譜波長500~900nm范圍內(nèi)的光譜校正
日期:
2017
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12
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28
點(diǎn)擊次數(shù):
382
說明:
用于測量紫外、可見光區(qū)發(fā)射光的偏振角度
日期:
2017
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12
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28
點(diǎn)擊次數(shù):
449
說明:
可以大幅提高儀器信噪比和檢出限,適宜于痕量分析
日期:
2017
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12
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28
點(diǎn)擊次數(shù):
416
說明:
實(shí)現(xiàn)對樣品恒溫、攪拌功能,適宜于對溫度敏感的樣品測量
日期:
2017
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12
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28
點(diǎn)擊次數(shù):
176
說明:
四面磨砂處理,可以使光源照射的光發(fā)生散射現(xiàn)象
日期:
2017
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12
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28
點(diǎn)擊次數(shù):
120