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附件耗材 Accessory
Case / 更多附件
2017 - 08 - 04
點(diǎn)擊次數(shù): 4339
手動(dòng)液壓壓力范圍0-15噸不漏油、不掉壓可配高純度KBr及瑪瑙研缽
2017 - 12 - 27
點(diǎn)擊次數(shù): 2042
直徑φ13mm，不脫模，帶有配套插板
2017 - 08 - 04
點(diǎn)擊次數(shù): 2508
用于塑料、橡膠等樣品檢測(cè)（含硅片）
2017 - 07 - 26
點(diǎn)擊次數(shù): 2249
KBr窗片，光程50mm、100mm可選
2017 - 07 - 26
點(diǎn)擊次數(shù): 2522
KBr窗片，波長(zhǎng)7000~400cm-1，墊片可選另有其它材質(zhì)窗片供選擇
2017 - 12 - 27
點(diǎn)擊次數(shù): 1578
KBr窗片，波長(zhǎng)7000~400cm-1，墊片厚度0.1、0.25、0.5mm可選
2017 - 12 - 27
點(diǎn)擊次數(shù): 515
10mm×10mm帶蓋10mm×10mm帶蓋氣密波長(zhǎng)7000~2000cm-1
產(chǎn)品中心 / Products
  • 發(fā)布時(shí)間: 2017 - 07 - 19
    - 儀器介紹WGD-8/8A型多功能組合式光柵光譜儀可用于各大學(xué)，作為物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)，也可用于科研單位做光譜分析之用。儀器有兩個(gè)出射狹縫，分別裝有光電倍增管和CCD探測(cè)器。WGD-8A型光譜儀是專門為大學(xué)的氫氘實(shí)驗(yàn)，鈉光譜實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)的儀器，選用光電倍增管、刻線密的光柵、精細(xì)的狹縫，確保分辨率高達(dá)0.06nm。
  • 發(fā)布時(shí)間: 2017 - 07 - 20
    - 儀器介紹本款激光干涉儀可開(kāi)展經(jīng)典的邁克耳遜干涉，法布里-珀羅干涉和泰曼-格林干涉實(shí)驗(yàn)。儀器設(shè)計(jì)精巧，一體化結(jié)構(gòu)能大大減少實(shí)驗(yàn)調(diào)整時(shí)間，提高實(shí)驗(yàn)效率，同時(shí)所有結(jié)構(gòu)件固定在厚重小平臺(tái)上，能防止震動(dòng)對(duì)實(shí)驗(yàn)的影響。邁克耳遜，法布里-珀羅及泰曼—格林三種模式之間可以方便地轉(zhuǎn)換，實(shí)驗(yàn)內(nèi)容豐富，操作簡(jiǎn)潔，結(jié)果準(zhǔn)確，是開(kāi)展組合干涉實(shí)驗(yàn)的好的選擇。- 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容1、邁克耳遜干涉模式：獲得干涉條紋、觀察等傾干涉條紋、觀察等厚干涉條紋、觀察白光干涉條紋(可選附件：鈉、鎢兩用燈)、測(cè)量He-Ne激光的波長(zhǎng)、測(cè)量鈉光的波長(zhǎng)、測(cè)鈉黃雙線的波長(zhǎng)差、測(cè)量空氣折射率(可選附件：氣室、氣壓計(jì)及表頭)、測(cè)透明介質(zhì)的折射率2、法布里-帕羅干涉模式：觀察多光束干涉現(xiàn)象、測(cè)量He-Ne激光波長(zhǎng)、觀察鈉雙線的干涉3、泰曼-格林干涉模式：觀察泰曼-格林干涉現(xiàn)象
  • 發(fā)布時(shí)間: 2017 - 07 - 21
    - 儀器介紹SGC-10薄膜測(cè)厚儀，適用于介質(zhì)，半導(dǎo)體，薄膜濾光片和液晶等薄膜和涂層的厚度測(cè)量。該薄膜測(cè)厚儀，是我公司與美國(guó)new-span公司合作研制的，采用new-span公司先進(jìn)的薄膜測(cè)厚技術(shù)，基于白光干涉的原理來(lái)測(cè)定薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)（折射率n，消光系數(shù)k）。通過(guò)分析薄膜表面的反射光和薄膜與基底界面的反射光相干形成的反射譜，用軟件來(lái)擬合運(yùn)算，得到單層或多層膜系各層的厚度d，折射率n，消光系數(shù)k。該設(shè)備關(guān)鍵部件均為國(guó)外進(jìn)口，也可根據(jù)客戶需要整機(jī)進(jìn)口。   - 強(qiáng)大的軟件功能界面友好，操作簡(jiǎn)便，用戶點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)就可以完成測(cè)量。便捷快速的保存、讀取測(cè)量得到的反射譜數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)處理功能強(qiáng)大，可同時(shí)測(cè)量多達(dá)四層的薄膜的反射率數(shù)據(jù)。一次測(cè)量即可得到四層薄膜分別的厚度和光學(xué)常數(shù)等數(shù)據(jù)。材料庫(kù)中包含了大量常規(guī)的材料的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)。用戶可以非常方便地自行擴(kuò)充材料數(shù)據(jù)庫(kù)。 - 產(chǎn)品功能適用性該儀器適用于多種介質(zhì)，半導(dǎo)體，薄膜濾光片和液晶等薄膜和涂層的厚度測(cè)量。 - 典型的薄膜材料為SiO2、CaF2、MgF、光刻膠、多晶硅、非晶硅、SiNx、TiO2、聚酰亞胺、高分子膜。 - 典型的基底材料為SiGe、GaAs、ZnS、ZnSe、鋁丙烯酸、藍(lán)寶石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。儀器具有開(kāi)放性設(shè)計(jì)，儀器的光纖探頭可很方便地取出，...
  • 發(fā)布時(shí)間: 2017 - 07 - 21
    - 儀器介紹本實(shí)驗(yàn)主要是根據(jù)光纖光學(xué)，光纖傳感及光通信等相關(guān)學(xué)科進(jìn)行設(shè)計(jì)，是學(xué)生學(xué)習(xí)并了解光纖光學(xué)作為前沿科學(xué)在近代科技發(fā)展中所起的重要作用，通過(guò)實(shí)驗(yàn)掌握相關(guān)的基本原理和基本操作，為以后的學(xué)習(xí)奠定堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。  - 產(chǎn)品特點(diǎn)· 內(nèi)容新穎，結(jié)構(gòu)緊湊，功能多樣，與教學(xué)結(jié)合緊密       · 設(shè)計(jì)了十五個(gè)實(shí)驗(yàn)：四個(gè)光纖光學(xué)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)，五個(gè)光纖元器件實(shí)驗(yàn)，三個(gè)光纖傳感器實(shí)驗(yàn)，三個(gè)光通訊原理實(shí)驗(yàn)     · 實(shí)現(xiàn)了四種波長(zhǎng)（λ=632.8nm，650nm，1310nm，1550nm）的光纖傳感與通訊 - 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容1、光纖光學(xué)基本知識(shí)演示實(shí)驗(yàn)2、光纖與光源耦合方法實(shí)驗(yàn)3、多模光纖數(shù)值孔徑（NA）測(cè)量實(shí)驗(yàn)4、光纖傳輸損耗性質(zhì)及測(cè)量實(shí)驗(yàn)5、光纖分束器參數(shù)測(cè)量實(shí)驗(yàn)6、可調(diào)光衰減器及參數(shù)測(cè)量實(shí)驗(yàn)7、光纖隔離器及參數(shù)測(cè)量實(shí)驗(yàn)8、光纖光開(kāi)關(guān)實(shí)驗(yàn)9、波分復(fù)用（WDM）原理性實(shí)驗(yàn)10、M-Z光纖干涉實(shí)驗(yàn)11、光纖溫度傳感原理實(shí)驗(yàn)12、光纖壓力傳感原理實(shí)驗(yàn)13、光發(fā)射機(jī)消光比測(cè)量實(shí)驗(yàn)14、摻鉺光纖放大器原理性實(shí)驗(yàn)15、開(kāi)路音頻模擬信號(hào)傳輸實(shí)驗(yàn)
  • 發(fā)布時(shí)間: 2017 - 07 - 21
    - 儀器介紹SGY-8型光電探測(cè)原理綜合實(shí)驗(yàn)儀是光電檢測(cè)器件特性測(cè)試的實(shí)驗(yàn)儀，主要研究光電檢測(cè)器件的基本特性，如光電特性、伏安特性、光譜特性、時(shí)間響應(yīng)特性等。光電檢測(cè)器件可根據(jù)用戶的需求進(jìn)行選擇，如光敏電阻、光敏二極管、光敏三極管、硅光電池、APD光電二極管、PIN光電二極管、色敏光電二極管等。- 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容光敏電阻，光敏二極管，光敏三極管，硅光電池，APD光電二極管，pin光電二極管，色敏光電二極管基本特性實(shí)驗(yàn)： 1、工作原理和結(jié)構(gòu)認(rèn)知實(shí)驗(yàn)2、暗電阻、暗電流，亮電阻、亮電流測(cè)試實(shí)驗(yàn)3、光電流，伏安特性，光電特性，時(shí)間響應(yīng)特性，光譜特性測(cè)試實(shí)驗(yàn)
聯(lián)系方式

銷售熱線：400-105-3560

售后服務(wù)：022-83712229（物理教學(xué)）

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聯(lián)系地址：天津市華苑產(chǎn)業(yè)園區(qū)鑫茂科技園G座EF單元二層

案例名稱： 漫反射附件
說(shuō)明： 與鹵化物壓片法類似，漫反射法同樣需要將粉末樣品和稀釋劑混合，不同的是漫反射法直接對(duì)樣品的原始狀態(tài)進(jìn)行分析，不需用進(jìn)行壓片，適用于細(xì)顆粒和粉末狀樣品的動(dòng)態(tài)原位測(cè)試適用于FTIR-850
日期: 2017 - 12 - 27
點(diǎn)擊次數(shù): 195
案例名稱： 紅外光纖探頭
說(shuō)明： 化學(xué)反應(yīng)過(guò)程監(jiān)控石油，醫(yī)藥和食品工藝成分分析排氣管道及石油氣體監(jiān)測(cè)適用于FTIR-850
日期: 2017 - 12 - 27
點(diǎn)擊次數(shù): 190
說(shuō)明： 用于管狀石英玻璃羥基含量的測(cè)定
日期: 2017 - 12 - 27
點(diǎn)擊次數(shù): 149
說(shuō)明： 用于單晶硅氧碳含量測(cè)定（含標(biāo)準(zhǔn)參比硅片）
日期: 2017 - 12 - 27
點(diǎn)擊次數(shù): 134
案例名稱： 固體樣品支架
說(shuō)明： 用于固體樣品、粉末樣品和高濃度樣品的優(yōu)化測(cè)定
日期: 2017 - 12 - 28
點(diǎn)擊次數(shù): 1403
說(shuō)明： 無(wú)需開(kāi)蓋更換樣品，實(shí)現(xiàn)多樣品的快速測(cè)量
日期: 2017 - 12 - 28
點(diǎn)擊次數(shù): 422

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